DUJINLABS.COM

전자회로 실무 / 고장 진단

민감한 회로의 이상 신호는 조명도 한 변수로 분리해 비교합니다

광센서가 없는 회로에서도 빛 때문에 측정값이 달라질 수 있습니다. 회로를 건드리지 않고 빛만 가렸다가 비춰 보면, 조명이 원인인지 다른 접촉 문제가 원인인지 구분하는 데 도움이 됩니다.

먼저 알아둘 용어

광 민감성·광 펄스 — 광 민감성은 빛이 소자 내부 상태나 미세 전류에 영향을 주는 성질입니다. 광 펄스는 짧은 빛 자극으로, 특정 강한 광원에서의 반응을 일반 실내 조명 전체로 확대하지 않습니다.

차광·정전용량 결합 — 차광은 빛이 들어오는 경로를 가리는 것입니다. 손이나 도전성 덮개를 가까이 대면 빛뿐 아니라 전기적 결합도 바뀔 수 있어 전기가 통하지 않는 가림막을 회로에 닿지 않게 두고 비교하는 것이 좋습니다.

배선은 유지하고 빛을 가리는 물체만 움직여 센서에 들어오는 빛을 바꿉니다. 재생 속도와 움직임의 크기는 설명을 위한 것입니다.
정지 그림 확대
배선은 유지하고 빛을 가리는 물체만 움직여 센서에 들어오는 빛을 바꿉니다. 재생 속도와 움직임의 크기는 설명을 위한 것입니다. · 그림을 클릭하면 확대됩니다.

먼저 어떤 조건에서 변하는지 좁힙니다

모든 PCB(Printed Circuit Board)가 빛에 민감하거나 검은 덮개 하나가 모든 문제를 해결하는 것은 아닙니다. 노출된 민감 소자가 특정 광 자극에 반응하는지 확인하고 윗면뿐 아니라 옆면 등 빛의 유입 경로도 조사합니다. 주변 광원의 종류·거리·변화 방식과 대상 부품을 기록합니다.

같은 입력·전원·측정 연결을 유지하고 보드(board)를 누르지 않은 채 비도전성 차광물로 비교합니다. 차광했을 때 변화가 사라지고 다시 밝히면 돌아오는지 반복합니다. 도전성 물체나 손은 접촉·용량·단락 조건을 함께 바꿀 수 있으므로 그 효과와 구분합니다.

덮은 뒤 시간이 지나서 변하면 온도도 분리합니다

차광 직후와 오래 덮은 뒤를 나누어 봅니다. 장시간 뒤에만 달라지면 덮개가 냉각을 바꾼 영향도 후보입니다. 조명 외 변수를 고정하고 온도와 전원 파형을 함께 기록합니다. 광 민감성이 확인되지 않았는데 마스크(mask) 색이나 금속 케이스부터 바꾸는 것은 원인 분리 시험을 대신하지 못합니다.

실제 영향이 반복 확인되면 해당 부품의 빛 유입 경로를 막는 구조를 검토합니다. 절연·방열·기구 조건을 해치지 않는 방식으로 수정하고 원래 재현 조건에서 다시 확인합니다. 결과를 기록할 때는 어떤 조명에서 어느 부품을 얼마나 가렸는지 적고, 전기적 변화가 나타난 시간과 온도 조건도 함께 남깁니다.

작업 순서를 다시 확인합니다

민감한 회로의 이상 신호는 조명도 한 변수로 분리해 비교합니다 — 설명용 도해
민감한 회로의 이상 신호는 조명도 한 변수로 분리해 비교합니다 — 설명용 도해 · 클릭하면 확대됩니다.